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行业标准丨TCPIA 0037—2022《光伏晶体硅片规范》

发布时间：

2022-05-23 15:57

1 范围

本文件规定了光伏电池片用光伏晶体硅片（以下简称硅片）的要求、检验方法、检验规则、包装、运输、贮存、质量证明书。

本文件适用于光伏直拉单晶硅片及铸造多晶硅片,类单晶硅片参照单晶硅片。

2 规范性引用文件

下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款。其中，注日期的引用文件，仅该日期对应的版本适用于本文件；不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件。

GB/T 1550

非本征半导体材料导电类型测试方法

GB/T 1554

硅晶体完整性化学择优腐蚀检验方法

GB/T 1555 半导体单晶晶向测定方法

GB/T 1557 硅晶体中间隙氧含量的红外吸收检测方法

GB/T 1558 硅中代位碳原子含量.红外吸收测量方法

GB/T 2828.1—2012 计数抽样检验程序

第1部分:按接收质量限(AQL)检索的逐批检验抽样计划

GB/T 6616

半导体硅片电阻率及硅薄膜薄层电阻测试方法

非接触涡流法

GB/T 6619 硅片弯曲度测试方法

GB/T 6620 硅片翘曲度非接触式测试方法

GB/T 11073 硅片径向电阻率变化的测量方法

GB/T 14140 硅片直径测量方法

GB/T 14264

半导体材料术语

GB/T 29054

太阳能电池用铸造多晶硅块

GB/T 30860 太阳能电池用硅片表面粗糙度及切割线痕测试方法

GB/T 30869 太阳能电池用硅片厚度及总厚度变化测试方法

GB/T 31854

光伏电池用硅材料中金属杂质含量的电感耦合等离子体质谱测量方法

SJ/T 11627 太阳能电池用硅片电阻率在线测试方法

SJ/T 11630 太阳能电池用硅片几何尺寸测试方法

SJ/T 11631 太阳能电池用硅片外观缺陷测试方法

SJ/T 11632 太阳能电池用硅片微裂纹缺陷的测试方法

YS/T 28 硅片包装

SEMI PV13-0714

硅片、硅锭和硅块中多数载流子复合寿命的测试非接触涡流传感法